EXM100系列台式闪测仪EXW卧式闪测仪EX系列闪测仪EXM190系列光学快速测量仪EXC拼接系列光学快速测量仪EXC 4030 拼接 光学快速测量仪大视野一键式测量仪智能一键闪测仪EXP50光学轴类测量仪EXP80光学轴类测量仪光学轴类测量仪EXCELLENCE  M手动系列EXCELLENCE M手动大行程系列EXCELLENCE CNC 自动系列EXCELLENCE 3020CNC  自动测量影像仪EXCELLENCE  HG 龙门式系列EXCELLENCE  HG762 龙门自动影像仪EXCELLENCE TNC塔吊式自动影像仪二次元影像仪正置金相显微镜OP-40M研究级金相显微镜OP-50M正置金相显微镜MX-100正置金相显微镜MX-200倒置金相显微镜OPT-40M倒置金相显微镜OPT-20M半导体检查显微镜MX-3000单筒金相显微镜TJ-5000T金相显微镜超景深3D测量显微镜工具显微镜电镜能谱一体机高性价比标准版扫描电镜7000 台式扫描电子显微镜F100 热场发射扫描电子显微镜IT200 扫描电子显微镜7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜IT500HR 扫描电子显微镜7900F 热场发射扫描电子显微镜Serial Block-face SEM 3ViewD-2300/2300F 能谱仪IT500 扫描电子显微镜7200F 热场发射扫描显微镜扫描电子显微镜Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜ARM200F原子级分辨率透射电子显微镜Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜1400Flash 透射电子显微镜D-2300T 能谱仪05500TGP 断层扫描系统3200FS 场发射透射电子显微镜2100Plus 透射电子显微镜ARM1000 超高压透射电子显微镜F200 场发射透射电子显微镜ARM300F 透射电子显微镜透射电子显微镜台式直读光谱仪落地式直读光谱仪移动式直读光谱仪直读光谱仪SPM-9700SPM-8100FM扫描探针显微镜激光共聚焦显微镜Smartproof5共聚焦显微镜共聚焦显微镜3D显微镜Struers切割设备Struers镶样设备Struers研磨和抛光设备Struers自动清洁设备Struers制样设备Struers维氏硬度计Struers努氏硬度计Struers布氏硬度计Struers洛氏硬度计Struers硬度检测设备Optician焊接熔深检查系统Optician孔隙率测量系统Infralytic 油膜测厚仪器刀具测量系统自动端子切面分析仪一体式粗糙度轮廓仪MMD-HPG2000SV粗糙度轮廓仪MMD-HPG150粗糙度轮廓仪MMD-HPG120粗糙度轮廓仪MMD-HPG100H粗糙度轮廓仪MMD-HPG100F粗糙度轮廓仪MMI-200D一体式粗糙度轮廓仪TJ-LK-5C/6C粗糙度轮廓仪粗糙度轮廓仪螺纹测量仪粗糙度仪MMD-PG100/150PG轴承专用型轮廓仪MMD-R100系列轮廓仪MMD-R120/150轮廓仪MMD-R220/R320轮廓仪MMD-100A/100B轮廓仪MMD-120A/120B轮廓仪MMD-150A/150B轮廓仪MMD-220A/220B轮廓仪轮廓仪DTP-4000B 圆度仪DTP-4000A 圆度仪DTP-3000B 圆度仪DTP-3000A 圆度仪DTP-1000AE/1000B 圆度仪DTP-550A/550B 圆度仪DTP-7000 圆度仪DTP-6000 圆度仪DTP-5000B 圆度仪DTP-5000A 圆度仪DTP-1000CE 圆度仪DTP-1000D 圆度仪DTP-2000C 圆度仪DTP-2000D 圆度仪圆度仪CA35/65/95/125CNC系列圆柱度仪CA20/25 圆柱度仪CA30H/60H 圆柱度仪CA35/CA65 圆柱度仪CA90/CA95 圆柱度仪CA120/125 圆柱度仪圆柱度仪L-1000 手动型凸轮轴测量仪L-2000 手动型凸轮轴测量仪L-1000 全自动(CNC)凸轮轴测量仪L-2000 全自动(CNC)凸轮轴测量仪CV-500 活塞形线仪凸轮轴测量仪OLYMPUS CIX100清洁度检测系统OLYMPUS BX53M清洁度检测系统清洁度检测系统(高倍型)清洁度检测系统(低倍型)清洁度检测系统(低倍型)清洁度升级改造清洁度检测系统全自动清洁度颗粒萃取设备OPTICIAN-PA自动清洗检测制样设备半自动清洁度颗粒萃取设备OPTICIAN PU02双工位清洁度颗粒萃取设备手动清洁度颗粒萃取设备清洁度颗粒萃取设备清洁度实验室规划德国PFINDER清洗剂清洁度实验耗材机器视觉检测方案光学在线自动化检测系统在线检测系统全自动装配系统冲压检测设备非标机械设计
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OLYMPUS CIX100清洁度检测系统

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奥林巴斯CIX100清洁度检测系统

清洁度检测组件与零部件的清洁对于生产工艺十分重要。对于开发、制造、批量生产和成品质量控制的所有流程,满足对常见微观尺寸污染物和异物颗粒的计数、分析和分类的高标准要求是非常重要的。

由于颗粒污染物对于零部件的使用寿命存在直接影响,国际和国家指令对于确定重要机械部件颗粒物污染的方法和存档要求均有表述。此前,使用残留颗粒物的质量来描述残留物特征。

奥林巴斯CIX100清洁度检测系统专为满足现代工业及国家和国际标准的清洁度要求而特别设计。


可靠

硬件与软件无缝集成的耐用型高效率系统能够提供可靠、精确的数据。

直观

使用方便的专用工作流可大大减少用户操作并确保数据可靠性——对操作员的经验水平无要求。

高速

创新的一体式扫描解决方案让完成扫描的速度是传统调节检偏镜式检测系统的两倍。实时显示颗粒物的计数和筛选过程,并且配有便于修改检测数据的强大易用型工具。

兼容

一键报告功能可满足国际标准规定的要求。

奥林巴斯CIX100系统通过完整检测流程实现性能和生产率的提升,该产品专为方便各种经验水平的检测员进行清洁度检测而设计。

软件可提供完整清洁度检测流程的分步指导。

直观的工作流可提高生产效率及对检测结果的信心,同时缩短检测周期,减少每次检测的成本以及操作失误。

实现高度可再现性的自动化和精确度

奥林巴斯CIX100系统是专为满足自动化清洁度检测需求的整体解决方案。所有部件均已针对高效率系统数据的精确性、可再现性、可重复性以及无缝集成进行优化。该系统专为获得卓越的光学性能、可再现观察条件以及可重复性而设计。同时,该清洁度检测系统还可通过自动化执行关键任务功能来大大减少人为错误。

实现高效率的直观引导

奥林巴斯CIX100系统通过完整检测流程实现性能和生产率的提升,该产品为方便各种经验水平的检测员进行清洁度检测而设计。软件可提供清洁度检测流程的分步指导。直观的工作流可提高生产效率及时检测结果的信心,同时缩短检测周期,减少每次检测的成本以及操作失误。

快速实时分析和审核精准的结果 所有相关数据均在一个界面显示

奥林巴斯CIX100系统利用创新偏光方法可在一次扫描中实现尺寸介于2.5μm至42mm之间分光及非反光颗粒物的高性能图像采集和精确的实时分析。创新的一体式扫描解决方案让完成扫描的速度是传统调节检偏镜式检测系统的两倍。实时显示颗粒物的计数和筛选进程,支持及时决策是否重新检测,并可在检测失败情况下快速做出应对。

灵活的评估和修改

奥林巴斯CIX100系统提供易用型工具可通过快速颗粒物复合实现检测数据的修改。一键重新分类功能支持用户灵活切换国际标准。系统探测到的所有污染物缩略图可通过尺寸测量链接定位,方便数据的复核。检索特殊污染物的信息简单,通过复核流程,在所有视图和尺寸细类中自动更新和显示所有检测结果。由此通过清新展示所有相关检测结果来节省时间。

高效的报告创建

基于符合行业标准预设模板的智能报告工具实现一键轻松完成检测结果的数字存档。检测结果可在Microsoft word2016中创建,并可直接导出为PDF格式,从而让数据能够通过电子邮件轻松传递。可进行报告和数据的存档,实现数据记录的保存。

技术规格:

显微镜

OLYMPUS CIX100

电动对焦

3轴操纵杆控制的同轴自动细调焦

对焦行程 25毫米

微调行程 100微米/周

载物台托架最大高度:40毫米

对焦速度 200微米/秒

可启用软件自动对焦

可定制多点聚焦图

照明器

内置LED照明

可同时实现反光和非反光颗粒物探测的照明机制

成像设备

彩色CMOS USB 3.0相机

样品高度

・样品受限于安装在所附滤膜托架上的过滤膜(直径47毫米)

物镜转换器

电动型

电动物镜转换器

6孔电动物镜转换器,已经安装3个UIS2物镜

PLAPON 1.25X,用于预览

MPLFLN 5X,用于观察大于10微米的颗粒物

MPLFLN 10X,用于观察大于2.5微米的颗粒物

选配:选配MPLFLN 20X,用于高度测量。

软件控制

图像放大倍率和像素与尺寸之间的关系均可随时掌握。

载物台

电动载物台X,Y

电动载物台X,Y

步进电机控制运动

最大范围:130 x 79毫米

最大速度 240毫米/秒(4毫米滚珠螺距)

可重复性 < 1微米

分辨率 0.01微米

使用3轴操纵杆控制

软件控制

扫描速度与所使用的倍率有关,10X时保证扫描速度少于10分钟

载物台对齐由工厂在装配时完成

样品托架

样品托架

样品托架专为在安装过程中避免发生意外碰撞转动而特别设计

过滤膜通过样品托架进行机械式展平

固定上盖时无需使用工具

样品托架始终使用载物台上的插槽1

颗粒物标准片(PSD)

用于验证系统测量的参考样品

在检验系统控制CIX相应功能的内置功能中使用的样品

颗粒物标准片(PSD)始终使用载物台上的插槽2

载物台插件

2个载物台插槽

载物台插槽专门用于样品托架和颗粒物标准片(PSD)的正确定位

控制器

工作站

高性能预安装式工作站

HP Z440, Windows 10-64位专业版(英文版)

16 GB RAM, 256 GB SSD和4 TB数据存储空间

2GB视频适配器

安装Microsoft Office 2016 (英文版)

具备联网功能,英文全键盘,1000 dpi光学鼠标

扩展插件

电动控制器, RS232 串口和USB 3.0

语言选择

操作系统和Microsoft Office默认语言可由用户更改

触摸屏

23寸触摸屏

专为CIX软件优化的1920x1080分辨率

功耗

额定值

AC适配器(2), 控制器和显微镜镜架(需要4个插头)

功耗

控制器:700瓦; 显示器:56瓦; 显微镜:5.8 瓦; 控制盒 7.4瓦

合计:769.2瓦

图纸

尺寸 (长 x 宽 x 高)

约1300毫米 x 800毫米 x 510毫米

重量

44公斤

系统环境要求:

常规使用

温度

10 - 35 °C

湿度

30 - 80 %

用于安全

环境

室内使用

温度

5 - 35 °C

湿度

最大80%(可达31 °C)(无冷凝)

温度高于31 °C时可工作的湿度值呈线性下降。

34 °C (70 %)至37 °C (60 %)至40 °C (50 %)

海拔高度

最高2000米

水平度

最大± 2°

电源及电压稳定性

±10 %

污染等级

2

总电压

II

软件

软件

CIX-ASW-V1.1

技术清洁度检测的专用工作流软件

语言

GUI :英语、法语、德语、西班牙语、日语、中文简体、以及韩语

在线帮助:英语、法语、德语、西班牙语、日语、中文简体、以及韩语

许可证管理

软件许可证通过许可证卡激活(安装时已经激活)

用户管理

系统可连接到网络进行域管理

实时图像

以彩色模式显示

窗口适应方法

实时探测
-为提高速度,颗粒物在被捕捉到时即进行检测。
-如果测量结果不佳,用户可停止该进程。

硬件控制

XY电动载物台
-操纵杆操作及软件控制
- 所选颗粒物的自动或手动再定位

电动物镜转换器:仅可使用软件选择

电动对焦
- 操纵杆控制。
- 软件自动对焦可用。
- 使用多点对焦图进行预测性自动对焦。

光线控制:光强度由软件进行自动控制

检查系统

系统验证
- 系统通过测量PSD参数进行验证。
- 生成OK或NOK的质量判定值

技术清洁度标准

可支持的标准:ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E

全面符合VDA19:2016推荐要求

颗粒物识别:颗粒物可通过颗粒物类型进行分类(纤维、反光、反光纤维、或其他)

定制标准:用户定义的标准可轻松确定

检测配置:系统允许加载、定义、复制、重命名、删除和保存检验标准

颗粒物平铺视图

以平铺视图显示检测到的颗粒物,提升导航效果

存储完整薄膜

完整滤膜图片可被存储,并可使用不同条件进行重新处理

颗粒物编辑

在修改过程中可对颗粒物进行编辑功能包括:
- 删除、合并、添加颗粒物。
- 修改颗粒物类型。

动态报告

使用Microsoft Word 2016模板可生成全面可定制的专业分析报告

选配解决方案CIX-S-HM

高度测量

选定颗粒物的自动或手动高度测量

- 选配软件解决方案可对所选颗粒物从上到下进行自动对焦。颗粒物高度由此通过Z坐标最大和最小差获得。
- 包含一个附加物镜(20X MPLFLN)和安装时激活使用的许可证卡。