EXM100系列台式闪测仪EXW卧式闪测仪EX系列闪测仪EXM190系列光学快速测量仪EXC拼接系列光学快速测量仪EXC 4030 拼接 光学快速测量仪大视野一键式测量仪EXP50光学轴类测量仪EXP80光学轴类测量仪光学轴类测量仪EXCELLENCE  M手动系列EXCELLENCE M手动大行程系列EXCELLENCE CNC 自动系列EXCELLENCE 3020CNC  自动测量影像仪EXCELLENCE  HG 龙门式系列EXCELLENCE  HG762 龙门自动影像仪EXCELLENCE TNC塔吊式自动影像仪二次元影像仪正置金相显微镜OP-40M研究级金相显微镜OP-50M正置金相显微镜MX-100正置金相显微镜MX-200倒置金相显微镜OPT-40M倒置金相显微镜OPT-20M半导体检查显微镜MX-3000单筒金相显微镜TJ-5000T金相显微镜超景深3D测量显微镜工具显微镜电镜能谱一体机高性价比标准版扫描电镜7000 台式扫描电子显微镜F100 热场发射扫描电子显微镜IT200 扫描电子显微镜7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜IT500HR 扫描电子显微镜7900F 热场发射扫描电子显微镜Serial Block-face SEM 3ViewD-2300/2300F 能谱仪IT500 扫描电子显微镜7200F 热场发射扫描显微镜扫描电子显微镜Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜ARM200F原子级分辨率透射电子显微镜Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜1400Flash 透射电子显微镜D-2300T 能谱仪05500TGP 断层扫描系统3200FS 场发射透射电子显微镜2100Plus 透射电子显微镜ARM1000 超高压透射电子显微镜F200 场发射透射电子显微镜ARM300F 透射电子显微镜透射电子显微镜台式直读光谱仪落地式直读光谱仪移动式直读光谱仪直读光谱仪SPM-9700SPM-8100FM扫描探针显微镜激光共聚焦显微镜Smartproof5共聚焦显微镜共聚焦显微镜3D显微镜Struers切割设备Struers镶样设备Struers研磨和抛光设备Struers自动清洁设备Struers制样设备Struers维氏硬度计Struers努氏硬度计Struers布氏硬度计Struers洛氏硬度计Struers硬度检测设备Optician焊接熔深检查系统Optician孔隙率测量系统Infralytic 油膜测厚仪器刀具测量系统自动端子切面分析仪一体式粗糙度轮廓仪MMD-HPG2000SV粗糙度轮廓仪MMD-HPG150粗糙度轮廓仪MMD-HPG120粗糙度轮廓仪MMD-HPG100H粗糙度轮廓仪MMD-HPG100F粗糙度轮廓仪TJ-LK-5C/6C粗糙度轮廓仪粗糙度轮廓仪螺纹测量仪粗糙度仪MMD-PG100/150PG轴承专用型轮廓仪MMD-R100系列轮廓仪MMD-R120/150轮廓仪MMD-R220/R320轮廓仪MMD-100A/100B轮廓仪MMD-120A/120B轮廓仪MMD-150A/150B轮廓仪MMD-220A/220B轮廓仪轮廓仪DTP-4000B 圆度仪DTP-4000A 圆度仪DTP-3000B 圆度仪DTP-3000A 圆度仪DTP-1000AE/1000B 圆度仪DTP-550A/550B 圆度仪DTP-7000 圆度仪DTP-6000 圆度仪DTP-5000B 圆度仪DTP-5000A 圆度仪DTP-1000CE 圆度仪DTP-1000D 圆度仪DTP-2000C 圆度仪DTP-2000D 圆度仪圆度仪CA35/65/95/125CNC系列圆柱度仪CA20/25 圆柱度仪CA30H/60H 圆柱度仪CA35/CA65 圆柱度仪CA90/CA95 圆柱度仪CA120/125 圆柱度仪圆柱度仪L-1000 手动型凸轮轴测量仪L-2000 手动型凸轮轴测量仪L-1000 全自动(CNC)凸轮轴测量仪L-2000 全自动(CNC)凸轮轴测量仪CV-500 活塞形线仪凸轮轴测量仪OLYMPUS CIX100清洁度检测系统OLYMPUS BX53M清洁度检测系统清洁度检测系统(高倍型)清洁度检测系统(低倍型)清洁度检测系统(低倍型)清洁度升级改造清洁度检测系统全自动清洁度颗粒萃取设备OPTICIAN-PA自动清洗检测制样设备半自动清洁度颗粒萃取设备OPTICIAN PU02双工位清洁度颗粒萃取设备手动清洁度颗粒萃取设备清洁度颗粒萃取设备清洁度实验室规划德国PFINDER清洗剂清洁度实验耗材机器视觉检测方案光学在线自动化检测系统在线检测系统全自动装配系统冲压检测设备非标机械设计
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EXCELLENCE 3020CNC  自动测量影像仪

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EXCELLENCE   3020CNC
自动测量影像仪

产品特点:

1. 新版CNC 软件,软件程式控制批量检测物件,可输出数据报表,软件可自定义公差,自动判定OK/NG;

2. 配有专用的全自动测量仪测量软件,可自动24小时不间断自动重复测量,大大提高测量工作效率。

3. 采用济南大理石底座和立柱、,机台稳定好,外观简洁大方;

3020自动影像仪.png

应用领域:

仪器适用于以二维平面测量为目的的一切应用领域。这些领域有:机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器,磁性材料、精密五金、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、计算机(电脑)、液晶电视(LCD)、印刷电路板(线路板、PCB)、汽车、医疗器械、钟表、螺丝、弹簧、仪器仪表、齿轮、凸轮、螺纹、半径样板、螺纹样板、电线电缆、刀具、轴承、筛网、试验筛、水泥筛、网板(钢网、SMT模板)等。

主要技术参数:

序号

项目名称

技术参数

1

有效测量行程(X轴×Y轴×Z轴)

300 mm×200 mm×200 mm

2

Z轴调焦升降范围

≤200mm   

3

物方视场

10.6-1.6mm,工作距离≤ 90mm

4

光栅尺分辨率

0.001mm

5

X、Y轴坐标示值误差

U≤( 3+L/200 ) μm   (L单位:mm)

6

Z轴坐标示值误差

E≤(5+L/150)μm(L单位mm)

7

载物台尺寸

460mm×360mm

8

玻璃台尺寸

330mm×230mm

9

玻璃和承载重量

高精度光学玻璃,承载重量≤30kg

10

影像放大倍数

20X~180X(可选40-220x)

11

主机外形尺寸约

750 mm×350 mm×1600 mm

12

相机

数字相机 高清彩色 CCD 或高清数字相机

13

镜头

连续变倍镜头

光学放大倍率 0.7×-4.5×(可选配:自动变倍镜头)

14

光栅尺

高精度精密光栅尺,分辨率 0.001mm

(可选配:金属贴片光栅尺)

15

上光系统

高亮度5环8区冷光源   自动机专用

16

下光系统

同轴冷光源   自动机专用

17

导轨

台湾P级高精度直线导轨

18

电机

三轴均采用全闭环伺服电机

19

驱动方式

三轴采用高精度光杆或丝杆传动

20

操作方式

三轴均为程序自动控制、鼠标拖动 或操控手柄

21

机台底座

高精度大理石 00 级

22

软件

自主研发正版2.5D全自动测量软件

23

数据输出

测量数据Word(doc)、Excel(xls)、物件放大摄像图形(bmp、jpg)、二维图形AutoCAD(dxf)

24

使用环境

温度 25±10℃,湿度 35%-65%

测量功能介绍:

光源控制:全电脑控制光源,点击选择灯光的开关,拖动滑条控制灯光的明暗强度;并可在编程过程中任意调节开头及明暗,

录入程序;上光源四相的灯光皆可独立控制开头、明暗,达到任意方向对被测物打光,增加机器适应性能。

连续变倍:不需要在每次变倍后重新影像校正,并可在测量及编程过程中任意变换放大倍率,能够在测量同一物体不同部分使用不同放大倍率,录入程序。大大提高测量效率(选配)。

自动对焦:由电脑自动判定对焦面,以保证每次对焦的精准度,减少人为判定产生的误差,提高对焦的重现性,使对焦后影像达到最佳,从而也提高后续测量的精度,且可在编程过程中插入自动对焦,消除批量产品可能出现的高度差,并录入程序。

光度指示:指导用户将光源明暗调至最佳强度,减少人为带来的不确定因素。

坐标功能:量测工件时无需手动调节摆直,软件提供坐标平移、旋转、摆正。

标注功能:直接在影像及几何区标注/移动尺寸,点、线、圆/圆弧及直线端点、中点,圆心、象限点自动捕捉。

自适应功能:可调节CCD参数设定,提高自适应力;去除毛边功能,以正确取得量测数据。

自动捕捉:利用影像工具快速自动抓取基本几何轮廓边界点,直接拟合成线、圆、弧。

测绘功能:机械图形直接输出.dxf格式,实现2.5D抄数功能 ,与AutoCAD、Pro/e、UG等其它软件无缝联接。

拍照功能:量测区工件放大摄像图形化输出,转成(.bmp、.jpg)。

测量报告:对测量数据可设定公差,自动判断,选择需要的测量数据,生成标准的WORD、EXCEL 图表报告。

编程功能:操作方便的自学习教导式编程软件,程序可重复执行。

SPC功能:独立的SPC软件,直接读取测量数据,进行数据分析,得到所需的管制图、制程能力指数,生成标准的WORD、EXCEL 图表报告。

对比功能:程式可直接输入.DXF文件,在影像测量区实现工件实物放大影像与标准设计图作直观的测量比对。

形位公差:提供平面内直线度、圆度、角度分析,进行有效之品质检验。

机台校正:X、Y、Z三轴皆可进行非线性精度补偿,X、Y轴可进行面阵补偿,提高机台示值精度,使测量更精准。

三维测量功能:Z轴方向可满足产品的高度测量要求。