EXM100系列台式闪测仪EXW卧式闪测仪EX系列闪测仪EXM190系列光学快速测量仪EXC拼接系列光学快速测量仪EXC 4030 拼接 光学快速测量仪大视野一键式测量仪EXP50光学轴类测量仪EXP80光学轴类测量仪光学轴类测量仪EXCELLENCE  M手动系列EXCELLENCE M手动大行程系列EXCELLENCE CNC 自动系列EXCELLENCE 3020CNC  自动测量影像仪EXCELLENCE  HG 龙门式系列EXCELLENCE  HG762 龙门自动影像仪EXCELLENCE TNC塔吊式自动影像仪二次元影像仪正置金相显微镜OP-40M研究级金相显微镜OP-50M正置金相显微镜MX-100正置金相显微镜MX-200倒置金相显微镜OPT-40M倒置金相显微镜OPT-20M半导体检查显微镜MX-3000单筒金相显微镜TJ-5000T金相显微镜超景深3D测量显微镜工具显微镜电镜能谱一体机高性价比标准版扫描电镜7000 台式扫描电子显微镜F100 热场发射扫描电子显微镜IT200 扫描电子显微镜7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜IT500HR 扫描电子显微镜7900F 热场发射扫描电子显微镜Serial Block-face SEM 3ViewD-2300/2300F 能谱仪IT500 扫描电子显微镜7200F 热场发射扫描显微镜扫描电子显微镜Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜ARM200F原子级分辨率透射电子显微镜Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜1400Flash 透射电子显微镜D-2300T 能谱仪05500TGP 断层扫描系统3200FS 场发射透射电子显微镜2100Plus 透射电子显微镜ARM1000 超高压透射电子显微镜F200 场发射透射电子显微镜ARM300F 透射电子显微镜透射电子显微镜台式直读光谱仪落地式直读光谱仪移动式直读光谱仪直读光谱仪SPM-9700SPM-8100FM扫描探针显微镜激光共聚焦显微镜Smartproof5共聚焦显微镜共聚焦显微镜3D显微镜Struers切割设备Struers镶样设备Struers研磨和抛光设备Struers自动清洁设备Struers制样设备Struers维氏硬度计Struers努氏硬度计Struers布氏硬度计Struers洛氏硬度计Struers硬度检测设备Optician焊接熔深检查系统Optician孔隙率测量系统Infralytic 油膜测厚仪器刀具测量系统自动端子切面分析仪一体式粗糙度轮廓仪MMD-HPG2000SV粗糙度轮廓仪MMD-HPG150粗糙度轮廓仪MMD-HPG120粗糙度轮廓仪MMD-HPG100H粗糙度轮廓仪MMD-HPG100F粗糙度轮廓仪TJ-LK-5C/6C粗糙度轮廓仪粗糙度轮廓仪螺纹测量仪粗糙度仪MMD-PG100/150PG轴承专用型轮廓仪MMD-R100系列轮廓仪MMD-R120/150轮廓仪MMD-R220/R320轮廓仪MMD-100A/100B轮廓仪MMD-120A/120B轮廓仪MMD-150A/150B轮廓仪MMD-220A/220B轮廓仪轮廓仪DTP-4000B 圆度仪DTP-4000A 圆度仪DTP-3000B 圆度仪DTP-3000A 圆度仪DTP-1000AE/1000B 圆度仪DTP-550A/550B 圆度仪DTP-7000 圆度仪DTP-6000 圆度仪DTP-5000B 圆度仪DTP-5000A 圆度仪DTP-1000CE 圆度仪DTP-1000D 圆度仪DTP-2000C 圆度仪DTP-2000D 圆度仪圆度仪CA35/65/95/125CNC系列圆柱度仪CA20/25 圆柱度仪CA30H/60H 圆柱度仪CA35/CA65 圆柱度仪CA90/CA95 圆柱度仪CA120/125 圆柱度仪圆柱度仪L-1000 手动型凸轮轴测量仪L-2000 手动型凸轮轴测量仪L-1000 全自动(CNC)凸轮轴测量仪L-2000 全自动(CNC)凸轮轴测量仪CV-500 活塞形线仪凸轮轴测量仪OLYMPUS CIX100清洁度检测系统OLYMPUS BX53M清洁度检测系统清洁度检测系统(高倍型)清洁度检测系统(低倍型)清洁度检测系统(低倍型)清洁度升级改造清洁度检测系统全自动清洁度颗粒萃取设备OPTICIAN-PA自动清洗检测制样设备半自动清洁度颗粒萃取设备OPTICIAN PU02双工位清洁度颗粒萃取设备手动清洁度颗粒萃取设备清洁度颗粒萃取设备清洁度实验室规划德国PFINDER清洗剂清洁度实验耗材机器视觉检测方案光学在线自动化检测系统在线检测系统全自动装配系统冲压检测设备非标机械设计
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ARM1000 超高压透射电子显微镜

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  由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短,即使增大物镜极靴之间的间隙,也能获得高分辨率的图像。此外,电子束具有很强的穿透能力,即使厚样品也能观察到清晰的图像,这是超高压透射电子显微镜的最大优点。为全球的高校和科研机构所使用的超高压透射电子显微镜(加速电压为1,000kV)。

三维观察和原位观察实验

一般的透射电子显微镜样品由于极薄,失去了块状材料的性质,有效利用超高压透射电子显微镜能观察厚样品的特长,能保持块状样品原来的性质进行观察,特别是充分利用增大物镜极靴之间的间隙所获得的空间,使气体氛围下的原位观察和样品大角度倾斜的三维观察在小型试验室的显微镜内得到了实现。

STEM图像对于厚样品的三维观察非常有效,特别是对微米级厚样品的三维观察能发挥威力。具有这些功能的ARM1000在新材料的开发和生物医学研究中是不可或缺的装置之一。ARM1000被世界各国的研究所、大学等机构用于生物医学、材料开发等尖端科学的研究。

技术参数:

[分辨率]

STEM

2.0 nm (1000 kV)

TEM (晶格, 点)

0.16 nm (点, 1000 kV)

0.10 nm (晶格, 1000 kV)

[放大倍率]

STEM

x 20,000 ~ x 2,000,000

TEM

x 200 ~ x 1,200,000

[电子源]

电子源

LaB6

加速电压*2

800, 1000 kV

[稳定度]

加速电压

≦8 x 10-7/min

物镜电流

≦5 x 10-7/min

[样品系统]

样品台 (测角仪)

全对中样品台

样品尺寸

3 mmφ

最大倾斜角

*3

行程范围 (mm)

X, Y: ±1   Z:±0.5

[选配] *4

*1 : 如有特殊要求请另行咨询。
*2 : 其它加速电压, 请另行咨询。
*3 : 该角度高度依赖于样品架的物理尺寸. 请另行咨询。
*4 : 如有特殊要求请另行咨询