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F100 热场发射扫描电子显微镜

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F100集成了备受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和电子光学控制系统Neo Engine,一个新开发的操作GUI“SEM Center”和一个创新的Live-AI filter, 实现了高空间分辨率成像观察和高可操作性。F100的工作效率比之前的7000系列高50%或更高。


◇新操作导航SEM Center-集成了EDS操作

新开发的操作GUI“SEM Center”将SEM成像观察和EDS分析整合在一起,实现了图像观察和元素分析的无缝数据采集。


◇新功能Zeromag

“Zeromag”,结合了从光学图像到SEM成像的无缝转换,很容易定位试样目标微区。


◇新功能Live-AI filter(实时图像视觉增强器人工智能过滤器) option

配备人工智能Live-AI filter。与图像集成处理不同,这种新的过滤器可以显示无缝移动的实时图像,没有残留图像。这种独特的特征对于快速搜索观察区域、聚焦和消像散调整非常有效。





◇In-lens 肖特基-Plus场发射电子枪(FEG)

电子枪和低像差聚光镜的增强集成实现了更高的亮度。能够有效收集电子枪产生的电子,即使低加速电压下也能得到数pA-数十pA的电流,支持高分辨观察、高速元素分析和EBSD分析。





◇混合透镜(HL)

混合透镜(HL)是静电和电磁场透镜的组合,支持从磁性材料到绝缘体等各种样品的高空间分辨率成像和分析




◇Neo Engine

Neo Engine是一种前沿的电子光学控制系统,在自动功能的精度上有了显著的提高,可操作性也更高。即使变更电子光学条件,光轴也不偏差,操作性和观察精度大幅提高。可以说是电子光学技术的结晶。



◇ACL

F100包括一个光阑角孔优化透镜(ACL)。ACL抑制入射电子的扩散,以始终保持最小的探头。这是通过对孔径角度的优化控制来实现的,以适应探头电流的大变化,使扫描电镜的操作包括高分辨率成像和x射线分析顺利进行。



◇检测器

4个检测器。标配SED (二次電子検出器)、UED(上方検出器) 、可选件RBED、USD



UED and USD



RBED and SED


技术参数:

分辨率(1 kV)

1.3纳米

分辨率(20 kV)

0.9纳米

加速电压

0.01至30 kV

标准检测器

高位电子检测器(UED),二次电子检测器(SED)

电子枪

浸没式肖特基Plus场发射电子枪

探头电流

几pA至300 nA (30 kV)    几pA至100 nA (5 kV)

物镜

混合式透镜(HL)

样品台

全优中心(eucentric)测角仪样品台

样品移动

X轴:70毫米,Y轴:50毫米,Z轴:2至41毫米    倾斜: –5至70°,旋转:360°

EDS检测器

能量分辨率:133 eV或更低 可检测元素:B(硼)至U(铀)  检测面积:60平方毫米