EXM100系列台式闪测仪EXW卧式闪测仪EX系列闪测仪EXM190系列光学快速测量仪EXC拼接系列光学快速测量仪EXC 4030 拼接 光学快速测量仪大视野一键式测量仪智能一键闪测仪EXP50光学轴类测量仪EXP80光学轴类测量仪光学轴类测量仪EXCELLENCE  M手动系列EXCELLENCE M手动大行程系列EXCELLENCE CNC 自动系列EXCELLENCE 3020CNC  自动测量影像仪EXCELLENCE  HG 龙门式系列EXCELLENCE  HG762 龙门自动影像仪EXCELLENCE TNC塔吊式自动影像仪二次元影像仪正置金相显微镜OP-40M研究级金相显微镜OP-50M正置金相显微镜MX-100正置金相显微镜MX-200倒置金相显微镜OPT-40M倒置金相显微镜OPT-20M半导体检查显微镜MX-3000单筒金相显微镜TJ-5000T金相显微镜超景深3D测量显微镜工具显微镜电镜能谱一体机高性价比标准版扫描电镜7000 台式扫描电子显微镜F100 热场发射扫描电子显微镜IT200 扫描电子显微镜7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜IT500HR 扫描电子显微镜7900F 热场发射扫描电子显微镜Serial Block-face SEM 3ViewD-2300/2300F 能谱仪IT500 扫描电子显微镜7200F 热场发射扫描显微镜扫描电子显微镜Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜ARM200F原子级分辨率透射电子显微镜Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜1400Flash 透射电子显微镜D-2300T 能谱仪05500TGP 断层扫描系统3200FS 场发射透射电子显微镜2100Plus 透射电子显微镜ARM1000 超高压透射电子显微镜F200 场发射透射电子显微镜ARM300F 透射电子显微镜透射电子显微镜台式直读光谱仪落地式直读光谱仪移动式直读光谱仪直读光谱仪SPM-9700SPM-8100FM扫描探针显微镜激光共聚焦显微镜Smartproof5共聚焦显微镜共聚焦显微镜3D显微镜Struers切割设备Struers镶样设备Struers研磨和抛光设备Struers自动清洁设备Struers制样设备Struers维氏硬度计Struers努氏硬度计Struers布氏硬度计Struers洛氏硬度计Struers硬度检测设备Optician焊接熔深检查系统Optician孔隙率测量系统Infralytic 油膜测厚仪器刀具测量系统自动端子切面分析仪一体式粗糙度轮廓仪MMD-HPG2000SV粗糙度轮廓仪MMD-HPG150粗糙度轮廓仪MMD-HPG120粗糙度轮廓仪MMD-HPG100H粗糙度轮廓仪MMD-HPG100F粗糙度轮廓仪MMI-200D一体式粗糙度轮廓仪TJ-LK-5C/6C粗糙度轮廓仪粗糙度轮廓仪螺纹测量仪粗糙度仪MMD-PG100/150PG轴承专用型轮廓仪MMD-R100系列轮廓仪MMD-R120/150轮廓仪MMD-R220/R320轮廓仪MMD-100A/100B轮廓仪MMD-120A/120B轮廓仪MMD-150A/150B轮廓仪MMD-220A/220B轮廓仪轮廓仪DTP-4000B 圆度仪DTP-4000A 圆度仪DTP-3000B 圆度仪DTP-3000A 圆度仪DTP-1000AE/1000B 圆度仪DTP-550A/550B 圆度仪DTP-7000 圆度仪DTP-6000 圆度仪DTP-5000B 圆度仪DTP-5000A 圆度仪DTP-1000CE 圆度仪DTP-1000D 圆度仪DTP-2000C 圆度仪DTP-2000D 圆度仪圆度仪CA35/65/95/125CNC系列圆柱度仪CA20/25 圆柱度仪CA30H/60H 圆柱度仪CA35/CA65 圆柱度仪CA90/CA95 圆柱度仪CA120/125 圆柱度仪圆柱度仪L-1000 手动型凸轮轴测量仪L-2000 手动型凸轮轴测量仪L-1000 全自动(CNC)凸轮轴测量仪L-2000 全自动(CNC)凸轮轴测量仪CV-500 活塞形线仪凸轮轴测量仪OLYMPUS CIX100清洁度检测系统OLYMPUS BX53M清洁度检测系统清洁度检测系统(高倍型)清洁度检测系统(低倍型)清洁度检测系统(低倍型)清洁度升级改造清洁度检测系统全自动清洁度颗粒萃取设备OPTICIAN-PA自动清洗检测制样设备半自动清洁度颗粒萃取设备OPTICIAN PU02双工位清洁度颗粒萃取设备手动清洁度颗粒萃取设备清洁度颗粒萃取设备清洁度实验室规划德国PFINDER清洗剂清洁度实验耗材机器视觉检测方案光学在线自动化检测系统在线检测系统全自动装配系统冲压检测设备非标机械设计
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F100 热场发射扫描电子显微镜

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F100集成了备受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和电子光学控制系统Neo Engine,一个新开发的操作GUI“SEM Center”和一个创新的Live-AI filter, 实现了高空间分辨率成像观察和高可操作性。F100的工作效率比之前的7000系列高50%或更高。


◇新操作导航SEM Center-集成了EDS操作

新开发的操作GUI“SEM Center”将SEM成像观察和EDS分析整合在一起,实现了图像观察和元素分析的无缝数据采集。


◇新功能Zeromag

“Zeromag”,结合了从光学图像到SEM成像的无缝转换,很容易定位试样目标微区。


◇新功能Live-AI filter(实时图像视觉增强器人工智能过滤器) option

配备人工智能Live-AI filter。与图像集成处理不同,这种新的过滤器可以显示无缝移动的实时图像,没有残留图像。这种独特的特征对于快速搜索观察区域、聚焦和消像散调整非常有效。





◇In-lens 肖特基-Plus场发射电子枪(FEG)

电子枪和低像差聚光镜的增强集成实现了更高的亮度。能够有效收集电子枪产生的电子,即使低加速电压下也能得到数pA-数十pA的电流,支持高分辨观察、高速元素分析和EBSD分析。





◇混合透镜(HL)

混合透镜(HL)是静电和电磁场透镜的组合,支持从磁性材料到绝缘体等各种样品的高空间分辨率成像和分析




◇Neo Engine

Neo Engine是一种前沿的电子光学控制系统,在自动功能的精度上有了显著的提高,可操作性也更高。即使变更电子光学条件,光轴也不偏差,操作性和观察精度大幅提高。可以说是电子光学技术的结晶。



◇ACL

F100包括一个光阑角孔优化透镜(ACL)。ACL抑制入射电子的扩散,以始终保持最小的探头。这是通过对孔径角度的优化控制来实现的,以适应探头电流的大变化,使扫描电镜的操作包括高分辨率成像和x射线分析顺利进行。



◇检测器

4个检测器。标配SED (二次電子検出器)、UED(上方検出器) 、可选件RBED、USD



UED and USD



RBED and SED


技术参数:

分辨率(1 kV)

1.3纳米

分辨率(20 kV)

0.9纳米

加速电压

0.01至30 kV

标准检测器

高位电子检测器(UED),二次电子检测器(SED)

电子枪

浸没式肖特基Plus场发射电子枪

探头电流

几pA至300 nA (30 kV)    几pA至100 nA (5 kV)

物镜

混合式透镜(HL)

样品台

全优中心(eucentric)测角仪样品台

样品移动

X轴:70毫米,Y轴:50毫米,Z轴:2至41毫米    倾斜: –5至70°,旋转:360°

EDS检测器

能量分辨率:133 eV或更低 可检测元素:B(硼)至U(铀)  检测面积:60平方毫米